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        x射線成像在快速無損檢測領域里有廣闊的發展前景

        點擊次數:206  發布時間:2022-04-20
          X射線數字射線成像(DigitalRadiograph,DR)和工業計算機斷層掃描(IndustrialComputedTomography,ICT)是工業無損檢測領域中的兩個重要技術分支。DR檢測技術,是20世紀90年代末出現的一種實時的X射線數字成像技術。相對于現今仍然普遍應用的射線膠片照相,DR檢測的優點就是實時性強,可以在線實時地對生產工件結構介質不連續性、結構形態以及介質物理密度等質量缺陷進行無損檢測,因此在快速無損檢測領域里有廣闊的發展前景。
          ICT技術是一種融合了射線光電子學、信息科學、微電子學、精密機械和計算機科學等領域知識的高新技術。它以X射線掃描、探測器采集的數字投影序列為基礎,重建掃描區域內被檢試件橫截面的射線衰減系數分布映射圖像。據此圖像,可對被檢試件的結構、密度、特征尺寸、成分變化等物理、化學性質進行判讀和計量。
          DR系統一般由射線源、待測物、探測器、圖像工作站等幾部分構成。對于DR檢測技術而言,其核心部件是探測器。目前在工程實際中應用的探測器主要分為兩種:圖像增強器和非晶硅平板探測器。圖像增強器首先通過射線轉化屏將X射線光子轉換為可見光,然后通過CCD(ChargeCoupledDevice)相機將可見光轉化為視頻信號,可在監視器上實時顯示,也可通過A/D采集卡轉化為數字信號輸入到計算機顯示和處理。非晶硅平板探測器采用大規模集成技術,集成了一個大面積非晶硅傳感器陣列和碘化銫閃爍體,可以直接將X光子轉化為電子,并最終通過數模轉換器(ADC)轉變成為數字信號。平板探測器具有動態范圍大和空間分辨率高的特性,可實現高速的DR檢測,已成為工業DR檢測技術發展的主流。
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